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牛津儀器新品元素分析及鍍層測厚儀首發(fā)

發(fā)布時間:2008-04-09 作者: 來源: 瀏覽:1049

      2008年1月24日,牛津儀器公司在上海南新雅華美達大酒店召開亞洲區(qū)新產(chǎn)品發(fā)布會,發(fā)布了新產(chǎn)品:X-Strata980。這款最新研發(fā)的產(chǎn)品X-Strata980運用X熒光原理實現(xiàn)痕量元素分析及鍍層厚度測量,結合大功率X射線光管和高分辨率探測器,檢測下限達到PPM精度,并具有超強的分析模型。牛津儀器新產(chǎn)品研發(fā)中心總監(jiān)Dr.AndyEllis表示,這款新產(chǎn)品的發(fā)布標志著牛津儀器已經(jīng)成為全球唯一的能提供包括便攜式、臺式(微聚焦、塊狀分析)XRF分析儀器的供應商,能夠為客戶提供針對RoHS篩選的完整解決方案。
    隨后牛津儀器將陸續(xù)在以下活動中推廣這款新產(chǎn)品:

    SMT/PCB & Nepcon Korea-Feb20-22

    CPCA上海-Mar18-20

    IPC/APEX Las Vegas-April1-3

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